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TESCAN 正式发布一款全新的用于SEM和FIB-SEM系统中电子束曝光(EBL)的软硬件解决方案
2021-02-04来源: TESCAN(中国) -
TESCAN与北工大携手召开SEM原位高温-拉伸-成像技术研讨会
2019-11-05来源: -
深度合作,互惠共赢 - TESCAN携手开封时代新能源科技有限公司建立联合实验室
2021-11-01来源: TESCAN(中国) -
TESCAN 扫描电镜全球销量突破3000台
2020-03-12来源: TESCAN(中国) -
TESCAN第四代VEGA震撼来袭
2020-09-27来源: TESCAN(中国) -
来自半导体实验室专家的报告回顾
2021-09-24来源: TESCAN(中国) -
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2020-09-30来源: TESCAN(中国) -
携手共赢,再创辉煌 TESCAN发布全新AMBER电镜系统
2019-10-16来源: -
第十一场研讨会 | 使用正切、反切和平面切割方式制备逻辑和存储器件的TEM薄片样品
2021-05-11来源: TESCAN(中国) -
今晚报告 | 通过大束流等离子FIB-SEM获得高通量且无伪影的样品表征
2022-04-26来源: TESCAN(中国)
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